ACF导电粒子压痕+异物查抄机是用于检测液晶面板Bonding段COG和FOG部位上出现的ACF导电粒子压痕情况以及Bonding异物,,蕴含导电粒子的数量、、散布、、压痕强度、、偏位、、各类异物等。其主题技术是使用红外和微分过问技术,,选取线扫相机对液晶面板COG、、FOG上Bump区域进行光学成像,,通过传统图像算法和AI深度学习算法对图像进行分析,,最终确认该指标检测对象是否合格。
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